CWDM無(wú)源模塊測(cè)試解決方案簡(jiǎn)介
CWDM無(wú)源模塊測(cè)試解決方案簡(jiǎn)介
CWDM 系統(tǒng)的價(jià)格較 DWDM 系統(tǒng)相對(duì)較低得多，由于 CWDM 的功率小、體積小、使用簡(jiǎn)便，因此配套設(shè)施、人員培訓(xùn)和后期的維護(hù)費(fèi)用較低。與光纜工程比較 : 利用 CWDM 設(shè)備則開通迅速，成本低，后期網(wǎng)絡(luò)升級(jí)方便，直接增加需要的信號(hào)，或者是更換更高速率的產(chǎn)品，不需要在更改光纖鏈路，網(wǎng)絡(luò)升級(jí)簡(jiǎn)便，減少了網(wǎng)絡(luò)升級(jí)成本。 目前 DWDM 技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于長(zhǎng)距離高速光通信系統(tǒng)中如國(guó)家主干網(wǎng)、海底光纜通信系統(tǒng)上，但 DWDM 由于技術(shù)較復(fù)雜、成本高，不適合應(yīng)用于城域網(wǎng)和接入網(wǎng)中。和 DWDM 系統(tǒng)不同， CWDM 系統(tǒng)采用的是不帶冷卻器的分布式反饋（ DFB ）激光器和寬帶光濾波器，因此 CWDM 系統(tǒng)具有以下優(yōu)點(diǎn)：功率損耗低、尺寸小和成本低。 CWDM 系統(tǒng)的投放市場(chǎng)使得它在城域網(wǎng)和接入網(wǎng)中能夠替代 DWDM 系統(tǒng)。目前，大多數(shù) CWDM 系統(tǒng)工作在從 1470nm 到 1610nm 的范圍內(nèi)，其信道間距為 20nm。目前制作 CWDM 的技術(shù)有薄膜濾光片（ Thin Film Filter, TFF ）和全光纖耦合器（ All Fiber Coupler ）等方式。不管哪一種 CWDM 器件的制作方式都存在同樣一個(gè)非常重要的問(wèn)題：技術(shù)指標(biāo)的測(cè)試，這些指標(biāo)包括插入損耗，通道帶寬，隔離度，通帶平坦度等重要指標(biāo)。由于 CWDM 覆蓋的波長(zhǎng)范圍非常寬（>140nm）,因此測(cè)試相對(duì)也較復(fù)雜，測(cè)試方法有以下幾種：
1 以白光源作為測(cè)試光源
優(yōu)點(diǎn)： 白光源的波長(zhǎng)覆蓋范圍很寬。
缺點(diǎn)： 白光源的功率密度很小， <-55dBm/nm, 因此隔離度指標(biāo)測(cè)試只能到 20dB 左右，難以能滿足要求。
2 以 1550 nm LED 光源作為測(cè)試光源
優(yōu)點(diǎn)： LED 光源的波長(zhǎng)覆蓋范圍較寬，價(jià)格較便宜。
缺點(diǎn)： LED 光源的功率密度較小，在 -40~-50dBm/nm 范圍內(nèi) , 因此隔離度指標(biāo)測(cè)試只能到 20~30dB 左右，當(dāng)然如果光譜儀用高靈敏度的掃描方式也可達(dá)到 30~40dB, 但又存在測(cè)試效率很低的問(wèn)題（掃描一個(gè)通道大約要 5 分鐘）。
3 以可調(diào)諧激光器作為測(cè)試光源
優(yōu)點(diǎn)： 還可測(cè)試 PDL ，回波損耗等指標(biāo)。
缺點(diǎn)： 一般單臺(tái)可調(diào)諧激光器的波長(zhǎng)覆蓋不了 CWDM 的要求范圍，所以需要 2 臺(tái)；另外必須 選較高檔的可調(diào)諧激光器，否則一般的可調(diào)諧激光器由于 ASE 的影響隔離度指標(biāo)也只能測(cè)到 30dB 左右。還有測(cè)試速度、慢效率低，成本高，測(cè)試曲線易受 PDL 的影響。
4 以 S+C+L 寬帶光源（ SLD ）作為測(cè)試光源
優(yōu)點(diǎn)： 測(cè)試效率高，結(jié)果直觀（建議首選）。
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5 以 ASE-C+L 寬帶光源作為測(cè)試光源，再用光譜儀掃描
優(yōu)點(diǎn)： 測(cè)試效率高，結(jié)果直觀，成本適中，是一種最常用的測(cè)試方案。 ASE-C+L 寬帶光源大約覆蓋了 1520~1620 nm 的波長(zhǎng)范圍，在這個(gè)范圍內(nèi)光功率密度比 LED 光源約大 3 個(gè)數(shù)量級(jí)（可參考圖一），因此 CWDM 的隔離度指標(biāo)可測(cè)到 50dB 以上。
缺點(diǎn)： 在 1470~1520 波段的光較弱，但它仍然有一些光，其光功率密度與 LED 光源相當(dāng)，隔離度指標(biāo)能測(cè)到 20~30dB 左右，當(dāng)然也可用高靈敏度的掃描方式提高測(cè)試隔離度。
注：以上介紹的是 CWDM 模塊的測(cè)量方法，對(duì)于 CWDM 薄膜濾光片和 CWDM 光纖耦合器等器件也可用類似的測(cè)量方法，應(yīng)該還更簡(jiǎn)單。
編輯：admin 最后修改時(shí)間：2017-09-05
