TDK - 切勿忽視測試電源的可靠性
由于自動(dòng)化測試的普及程度越來越高，可編程電源也越來越廣泛應(yīng)用于電子元器件，汽車電子，航空航天等行業(yè)的ATE測試系統(tǒng)中。但在客戶拜訪時(shí)發(fā)現(xiàn)，有部分客戶仍選擇使用一些低質(zhì)廉價(jià)的電源，甚至是二手產(chǎn)品，三無產(chǎn)品。當(dāng)我向他們推薦5年質(zhì)保，5年免校準(zhǔn)，高品質(zhì)的測試電源時(shí)，客戶的回復(fù)經(jīng)常是：“我只是需要它提供一個(gè)直流電，要求并不高。”實(shí)際上果真如此嗎？
電源的輸出性能直接影響被測設(shè)備的工作狀態(tài)，如果電源的輸出性能變差，可能導(dǎo)致被測設(shè)備工作狀態(tài)變化，對(duì)測試的準(zhǔn)確性和一致性將造成影響。從電源的角度來看，有多種因素可能導(dǎo)致輸出性能變化，從而導(dǎo)致測試結(jié)果受到影響。
電解電容壽命
電源的壽命主要取決于電解電容的壽命，而當(dāng)電解電容過了壽命保證期后，并不是馬上失效，而是其性能會(huì)越來越差，從而導(dǎo)致電源輸出電能品質(zhì)變差。電解電容壽命到期后，用戶并不一定能馬上發(fā)現(xiàn)電源輸出變化，從而對(duì)測試造成影響。
電解電容器的壽命主要跟其工作溫度有關(guān)，工作溫度每上升10℃，電容壽命下降一半。TDK-Lambda可編程電源采用高溫長壽命的電解電容器，并通過良好的電路設(shè)計(jì)以及合理的布局使得電解電容的溫升盡可能的降低，保證了長壽命。
長期運(yùn)行穩(wěn)定性
電源在長時(shí)間的運(yùn)行中，有可能由于內(nèi)部電位器出現(xiàn)松動(dòng)，移位等原因，造成輸出電壓產(chǎn)生較大的變化，極易造成誤判或漏判。因此在要求比較高的場合，會(huì)對(duì)電源及其他設(shè)備進(jìn)行周期性的校準(zhǔn)，以保證其穩(wěn)定性。但一年一次的校準(zhǔn)一般并不能及時(shí)的發(fā)現(xiàn)該問題，當(dāng)發(fā)現(xiàn)電源的輸出有較大的偏差時(shí)，電源可能已經(jīng)在該狀態(tài)下工作了數(shù)月之久。
TDK-Lambda新的可編程電源產(chǎn)品的反饋電路采用無電位器的設(shè)計(jì)，避免了該現(xiàn)象的發(fā)生，提高了測試的準(zhǔn)確性。電源的設(shè)計(jì)可保證5年內(nèi)無需校準(zhǔn)，當(dāng)然，客戶仍然可以進(jìn)行定期校準(zhǔn)，將故障可能性降至最低。
隨機(jī)故障
自動(dòng)化測試的一大優(yōu)勢就是降低勞動(dòng)力成本。一個(gè)工人甚至可以管理好幾條自動(dòng)測試線。但如果測試設(shè)備本身的可靠性低，隨機(jī)故障率較高呢？
可以想象，如果測試設(shè)備故障率較高，在影響產(chǎn)品測試的同時(shí)，也需要更多的人力來管理這些測試設(shè)備。自動(dòng)化測試帶來的優(yōu)勢蕩然無存，甚至可能起到阻礙作用。
另外，有些長時(shí)間的測試中途是不允許停機(jī)的。一旦停機(jī)，測試必須從頭重新做起。高可靠性，低故障率的測試設(shè)備帶來的優(yōu)勢是非常巨大的。
TDK-Lambda電源的高可靠性源自公司非常謹(jǐn)慎的設(shè)計(jì)理念。從元器件的選型，到產(chǎn)品設(shè)計(jì)，樣品評(píng)估，直至批量生產(chǎn)，均執(zhí)行嚴(yán)格的公司標(biāo)準(zhǔn)，確保每一顆元器件都足夠可靠，將電源的隨機(jī)故障率降至最低。
工欲善其事，必先利其器。如采用低質(zhì)量，低可靠性的測試電源，無法保證被測產(chǎn)品的性能和一致性，可能會(huì)帶來難以預(yù)料的重大后果。同時(shí)，如電源的故障率較高，整個(gè)系統(tǒng)的運(yùn)行和維護(hù)成本會(huì)大大增加，甚至可能影響研發(fā)或出貨進(jìn)度等等，可謂有百害而無一利。
編輯：admin 最后修改時(shí)間：2018-01-05
