安規(guī)電容器絕緣電阻
隨著科技的發(fā)展，人們一刻也離不開各類電子產(chǎn)品。在使用各類電子產(chǎn)品的過程中就存在著使用的安全問題。它們的正常運(yùn)行之一就是其絕緣材料的絕緣程度即絕緣電阻的數(shù)值。當(dāng)受熱和受潮時(shí)，絕緣材料便老化。其絕緣電阻便降低。從而造成電子產(chǎn)品漏電或短路事故的發(fā)生。為了避免事故發(fā)生，就要求經(jīng)常測量各種電子元器件的絕緣電阻。判斷其絕緣程度是否滿足設(shè)備需要。普通電阻的測量通常有低電壓下測量和高電壓下測量兩種方式。而絕緣電阻由于一般數(shù)值較高（一般為兆歐級）。在低電壓下的測量值不能反映在高電壓條件下工作的真正絕緣電阻值。
安規(guī)電容器的絕緣電阻取決于介質(zhì)材料配方、工藝過程（燒結(jié)）和測量時(shí)的溫度。所有介質(zhì)的絕緣電阻都會(huì)隨溫度的提高而下降，在低溫（-55℃）到高溫（125℃）的MIL溫度特性范圍內(nèi)可以觀察到一個(gè)非常大的下降過程。
測量安規(guī)電容器絕緣電阻的時(shí)需要重點(diǎn)考慮絕緣電阻與電容量的關(guān)系。電容量值與絕緣電阻成反比，即電容量越高，絕緣電阻越低。這是因?yàn)殡娙萘颗c漏電流大小 是相互成正比的，可以用歐姆定律和比體積電容關(guān)系加以說明。歐姆定律表述了導(dǎo)體中電流（I），電壓（V）和電阻（R）之間的關(guān)系：
I = V/R
但是，電阻（R）是一個(gè)與尺寸有關(guān)的物理量，也與材料本征的電阻率有關(guān)，如下所示：
R = ρL/A
這里 L = 導(dǎo)體長度 A = 導(dǎo)體橫截面積。因此電流（I）可以表示為： I = VA/ρL
安規(guī)電容器中通過絕緣體的漏電流（i）也可用上述關(guān)系式表示：I = VA’/ρt ，這里 V = 測試電壓 A’ = 有效電極面積ρ= 介質(zhì)電阻率 t = 介質(zhì)層厚度
從上面關(guān)系式可以看到，對于給定的測試電壓，漏電流大小正比于電容器有效電極面積，反比于介質(zhì)層厚度（和電阻率），即：i ∝ A’/t
類似地，電容量（C）正比于有效電極面積，反比于介質(zhì)層厚度，即：C = KA’/4.452t （這里 K = 介電常數(shù) A’ = 有效電極面積 t = 介質(zhì)層厚度）
因此 C ∝ A’/t 以及 i ∝ C
漏電流（i）與絕緣電阻成反比，即：IR ∝ 1/C
基于上述關(guān)系，可以歸納出以下幾點(diǎn)：
1．絕緣電阻是測試電壓的函數(shù)，漏電流正比于外加電壓：i = VA’/ρt 或 IR =ρt/VA’
2. 對于任意給定的電容器，絕緣電阻很大程度上依賴于介質(zhì)材料本征的電阻率（ρ），也依賴于材料配方和測量時(shí)的溫度。
3. 電容器絕緣電阻（IR）的測量值與電容量成反比，也就是說，IR是電容量的函數(shù)，因此，工業(yè)應(yīng)用中產(chǎn)品IR的最小標(biāo)準(zhǔn)是由電阻（R）和容量（C）, （R×C），所決定的，如下表所示。EIA標(biāo)準(zhǔn)要求產(chǎn)品在25℃時(shí)R×C超過1000歐姆-法拉（通常表示成1000兆歐-微法），在125℃時(shí)超過 100歐姆-法拉。
編輯：admin 最后修改時(shí)間：2018-02-26
