安規(guī)電容耐壓測(cè)試種類
對(duì)于任何電容而言，做耐壓試驗(yàn)通常具有破壞性，在進(jìn)行測(cè)試時(shí)操作要小心。
試驗(yàn)方法很簡(jiǎn)單：把電容串聯(lián)一個(gè)電阻，再直接接到耐壓儀輸出端，開啟耐壓儀，慢慢升電壓，耐壓儀報(bào)警（電容擊穿）時(shí)的電壓，就是電容的耐壓值。
安規(guī)電容耐壓測(cè)試有兩種選擇，如果安規(guī)規(guī)范允許同時(shí)接受直流或交流測(cè)試，必須了解直流和交流測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)。
安規(guī)電容交流耐壓(ACW)
安規(guī)電容交流耐壓測(cè)試的特點(diǎn)：大部份做耐壓測(cè)試的被測(cè)物都會(huì)含有一些雜散電容量。
安規(guī)電容交流耐壓測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)：
一：交流測(cè)試比直流測(cè)試更容易被安規(guī)單位接受。因大部份的產(chǎn)品都使用交流電，而交流測(cè)試可以同時(shí)對(duì)產(chǎn)品作正負(fù)極性的測(cè)試，與產(chǎn)品使用的環(huán)境完全一致，合乎實(shí)際使用狀況。
二：由于交流測(cè)試時(shí)無(wú)法充飽那些雜散電容，但不會(huì)有瞬間沖擊電流發(fā)生，因此不需讓測(cè)試
電壓緩慢上升，可以一開始測(cè)試就全電壓加上，除非這種產(chǎn)品對(duì)沖擊電壓很敏感。
三： 由于交流測(cè)試無(wú)法充滿那些雜散電容，在測(cè)試后不必對(duì)測(cè)試物作放電的動(dòng)作，這是另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)。
安規(guī)電容交流耐壓測(cè)試的缺點(diǎn)：
一：如果被測(cè)物的雜散電容量很大或被測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的電流，會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電電流，因而無(wú)法得知實(shí)際的漏電電流。
二：另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于必須供應(yīng)被測(cè)物的雜散電容所需的電流，機(jī)器所需輸出的電流會(huì)比
采用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。
安規(guī)電容直流(DC)測(cè)試的特點(diǎn)：
在直流耐壓測(cè)試時(shí)，被測(cè)物上的雜散電容會(huì)被充滿，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，在雜散電容被充滿后，會(huì)下降到趨近于零。
安規(guī)電容直流測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)：
一：一旦被測(cè)物上的雜散電容被充滿，只會(huì)剩下被測(cè)物實(shí)際的漏電電流。直流耐壓測(cè)試可以很清楚的顯示出被測(cè)物實(shí)際的漏電電流。
二：另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由于僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)被測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供應(yīng)的電
流非常小，所以機(jī)器的電流容量遠(yuǎn)低于交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。
直流測(cè)試的缺點(diǎn)：
一：除非被測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由零開始，緩慢上升，以避免充電電流過(guò)大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長(zhǎng)，一次所能增加的電壓也越低。充電電流過(guò)大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。
二： 由于直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)被測(cè)物充電，所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)被測(cè)物放電，才能做下一步工作。
三：.與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，
這個(gè)缺點(diǎn)必須被考慮。這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。
四在交流耐壓測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電表顯示值的1.4倍，這一點(diǎn)是一般電表所不能顯示
的，也是直流耐壓測(cè)試所無(wú)法達(dá)到的。所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。
安規(guī)電容絕緣電阻測(cè)試(Insulation Resistance Test)
新設(shè)計(jì)的一些安規(guī)分析儀大都將絕緣電阻測(cè)試的功能含蓋在內(nèi)，基本上絕緣電阻測(cè)試功能必須提供一個(gè)500到1000VDC的電壓，同時(shí)電阻的量測(cè)范圍也必須可以由幾百KW量測(cè)到幾個(gè)GW。這些功能可以讓產(chǎn)品的制造廠符合安全要求的規(guī)定，TUV和VDE等安規(guī)執(zhí)行單位在某些特定的產(chǎn)品會(huì)要求先做絕緣電阻的測(cè)試，然后才能執(zhí)行耐壓測(cè)試，這項(xiàng)規(guī)定目前大都被引用在產(chǎn)品設(shè)計(jì)所執(zhí)行的安規(guī)試驗(yàn)上。
絕緣電阻測(cè)試的基本理論與耐壓測(cè)試非常類似，耐壓測(cè)試的判定是以漏電流量為基準(zhǔn)，而絕緣電阻測(cè)試則以電阻值的形態(tài)作為判定依據(jù)，通常必須為多少M(fèi)W以上。絕緣電阻值越高表示產(chǎn)品的絕緣越好。
絕緣電阻測(cè)試的接線方式與耐壓測(cè)試完全相同，量測(cè)到的絕緣電阻值為兩個(gè)測(cè)之間以及其外圍連接在一起的各項(xiàng)關(guān)連網(wǎng)絡(luò)所形成的等效電阻值。
安規(guī)電容接地電阻測(cè)試(Ground Continuity Test or Ground Bond Test)
接地阻抗測(cè)試為測(cè)試產(chǎn)品的接地點(diǎn)，對(duì)產(chǎn)品的外殼或金屬部份，施以一個(gè)恒流(一般電流在10-40A之間)電源來(lái)測(cè)試兩點(diǎn)間的阻抗大小，一般產(chǎn)品規(guī)定量測(cè)25A，阻抗不得大于0.1Ω，
而CSA則要求量測(cè)40A以此測(cè)試，可檢測(cè)出接地點(diǎn)螺絲未鎖緊、接地線徑太小、接地線斷路等問(wèn)題。
接地電阻測(cè)試的主要目的為確定被測(cè)物在故障的情況之下，安全接地線是否能承擔(dān)故障的電流流量，接地的電阻值必須越低越好，這樣才能確認(rèn)一旦產(chǎn)品發(fā)生故障時(shí)，在輸入的的電源開關(guān)尚未切斷電源以前，可以讓使用者免于感電的危險(xiǎn)和威脅。
接觸電流測(cè)試(Touch Current Test)
接觸電流測(cè)試是諸多安規(guī)測(cè)試之中的一項(xiàng)測(cè)試，通常安規(guī)執(zhí)行單位、例如UL、CSA、ENEC、
VDE等會(huì)要求某些產(chǎn)品必須做這項(xiàng)測(cè)試。接觸電流的測(cè)試規(guī)格視各種不同的產(chǎn)品而有很大的不同，產(chǎn)品應(yīng)用的場(chǎng)所和功能的不同，也會(huì)造成規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的差別。
電流泄漏電(Current Leakage)和接觸(Touch Current)
測(cè)試為通稱的接觸電流測(cè)試條款，事實(shí)上可以被區(qū)分為三種不同的測(cè)試，分別為對(duì)地泄漏電電流(Earth Leakage Current)、對(duì)表面泄漏電流(Enclosure或Surface Leakage Current)和表面間泄漏電電流(Applied Part或Surface to Surface Leakage)。
主要的不同點(diǎn)在于測(cè)試
棒所量測(cè)位置的不同而有所不同，對(duì)地泄漏電流為漏電電流經(jīng)由電源線上的接地線流回大地，而表面泄漏電流是由于人員觸摸機(jī)體時(shí)，泄漏電流經(jīng)由人體流回大地。
另外表面間泄漏電流或稱為治療泄漏電流(Patient Lead Leakage)
則為任何應(yīng)用對(duì)象之間或流向應(yīng)用對(duì)象的泄漏電流，通常只有醫(yī)療儀器有這項(xiàng)測(cè)試
的要求。這些測(cè)試的主要目的為讓使用者在操作或手握應(yīng)用對(duì)象時(shí)非常安全，而不致于有感電傷害的危險(xiǎn)。
在生產(chǎn)線上生產(chǎn)的每個(gè)安規(guī)產(chǎn)品都必須做測(cè)試，才能完全保證產(chǎn)品符合規(guī)格的要求。
編輯：admin 最后修改時(shí)間：2018-02-26
