電容器常見(jiàn)失效分析
所謂失效,就是在正常的工作時(shí)間內(nèi)無(wú)法正常工作。電容器的主要參數(shù)有容量,即C值;損耗值即DF值;耐電壓,即TV值;絕緣電阻即IR值;還有漏電流值。一顆完美的電容器,以上參數(shù)均符合規(guī)格要求。穎特新電子生產(chǎn)的安規(guī)電容器按照IEC 60384國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。通常,很多客戶(hù)在使用安規(guī)電容器時(shí),都會(huì)考慮到電容如果失效會(huì)有什么樣的后果,嚴(yán)重等級(jí)多少?那么電容器失效后到底會(huì)是怎么樣的呢?東莞穎特新電子專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)制造安規(guī)陶瓷電容器多年。下面,就電容器的失效與對(duì)策供大家分享。
失效率是電子元件質(zhì)量和可靠性的一個(gè)重要參數(shù),除了與制造水平有關(guān)系外,還與應(yīng)用條件有很大關(guān)系。我們?cè)谶x型時(shí)要注意看規(guī)格參數(shù),按照說(shuō)明標(biāo)準(zhǔn)使用。下圖是安規(guī)Y電容的生產(chǎn)工藝圖。重點(diǎn)工序是壓片工程和焊錫工程。
電容失效常見(jiàn)的電氣性能表現(xiàn)主要有以下幾點(diǎn):
1.電容器無(wú)容量。 物理性原因可能是焊點(diǎn)脫落。機(jī)械性原因是電容內(nèi)部結(jié)構(gòu)被破壞。
2.電容量值偏高或偏低。超出規(guī)格上下限。每個(gè)產(chǎn)品都有溫度系數(shù)。即在規(guī)定的溫度范圍內(nèi),它的容值變化率。就是溫度每變化一度,容值都會(huì)有一點(diǎn)波動(dòng)。規(guī)定檢測(cè)溫度標(biāo)準(zhǔn),才有對(duì)比性。一般標(biāo)準(zhǔn)溫度25℃。
3.電容被擊穿短路。原因是電容器超負(fù)荷工作,電容器承受的電壓電流超過(guò)本身的峰值。
4. DF值偏大。電容在生產(chǎn)焊接過(guò)程中有吃銀現(xiàn)象。或者是電容芯片有被污染。
5.絕緣電阻偏低。影響電阻的是儲(chǔ)存的環(huán)境。如果電容長(zhǎng)期在潮濕的環(huán)境下儲(chǔ)存。絕緣電阻值會(huì)下降。
我們拿到不良樣品后,先非破壞性分析,后破壞性分析;預(yù)先清楚每分析項(xiàng)目的目的、可能發(fā)生的情況;不引入新機(jī)理,或可界定所引入的新機(jī)理;不遺漏信息;養(yǎng)成作記錄的習(xí)慣; 以失效表征為基礎(chǔ),以失效特征與機(jī)理的因果;關(guān)系為依據(jù),以邏輯性為主線(xiàn),不牽強(qiáng),不生硬。自圓其說(shuō),不能自圓其說(shuō)的疑點(diǎn),往往是失效的本質(zhì)。
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編輯:admin 最后修改時(shí)間:2018-02-26