電容擊穿原因之一熱擊穿
我們平時在使用電容器時，無論是陶瓷電容，薄膜電容，安規(guī)X電容，安規(guī)Y電容，都偶爾會碰到有電容失效的情況，電容器失效，擊穿就是其中一個原因。而電容器擊穿，又分熱擊穿與電擊穿。
熱擊穿的本質(zhì)是處于電場中的介質(zhì)，由于其中的介質(zhì)損耗而產(chǎn)生熱量，就是電勢能轉(zhuǎn)換為熱量，當(dāng)外加電壓足夠高時，就可能從散熱與發(fā)熱的熱平衡狀態(tài)轉(zhuǎn)入不平衡狀態(tài)，若發(fā)出的熱量比散去的多，介質(zhì)溫度將愈來愈高，直至出現(xiàn)永久性損壞，這就是熱擊穿。
它形成的過程如下，電極間介質(zhì)在一定外加電壓作用下，其中不大的電導(dǎo)最初引起較小的電流。電流的焦耳熱使電容產(chǎn)品內(nèi)部溫度升高。但電介質(zhì)的電導(dǎo)會隨溫度迅速變大而使電流及焦耳熱增加。若樣品及周圍環(huán)境的散熱條件不好，則上述過程循環(huán)往復(fù)，互相促進(jìn)，最后使樣品內(nèi)部的溫度不斷升高而引起損壞。在電介質(zhì)的薄弱處熱擊穿產(chǎn)生線狀擊穿溝道。擊穿電壓與溫度有指數(shù)關(guān)系，與樣品厚度成正比；但對于薄的樣品，擊穿電壓比例于厚度的平方根。熱擊穿還與介質(zhì)電導(dǎo)的非線性有關(guān)，當(dāng)電場增加時電阻下降，熱擊穿一般出現(xiàn)于較高環(huán)境溫度。在低溫下出現(xiàn)的是另一種類型的電擊穿。
電擊穿是高壓造成的擊穿，熱擊穿是大電流造成的擊穿。高壓擊穿如果能限制電流的話還能恢復(fù)。熱擊穿一般不可恢復(fù)。
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編輯：admin 最后修改時間：2018-02-26
