村田SMD陶瓷電容器MLCC斷裂分析及造成影響
片狀獨石陶瓷電容器受到機械、熱應(yīng)力時會發(fā)生斷裂，當(dāng)斷裂到內(nèi)部電極的活動區(qū)域(圖1)時，會導(dǎo)致該部分內(nèi)部電極間的漏電，并可能造成絕緣電阻的降低(短路)。
絕緣電阻降低的機械故障主要為"斷裂處在高電場下的放電"。
例，如圖2所示，當(dāng)內(nèi)部電極間發(fā)生斷裂時，電極間的介電材料中會形成一層較薄的空氣層。
將其模型化后，當(dāng)施加電壓V時，將介電材料內(nèi)部的電場強度用E來表示，空氣層的電場強度用εＥ來表示。
因此，施加在電容器上的電壓大部分處于空氣層，當(dāng)其超過空氣的絕緣破壞電壓時，會產(chǎn)生放電現(xiàn)象，反復(fù)放電后會降低絕緣電阻。
圖1
圖2
編輯：admin 最后修改時間：2017-05-18
