mlcc內(nèi)部電極連接方式介紹 遠(yuǎn)離開裂危險
關(guān)于mlcc內(nèi)部電極連接方式介紹是很多人都關(guān)注的焦點，尤其是相關(guān)的從業(yè)人員，都對其內(nèi)部的電極連接正確以及優(yōu)缺點等都十分感興趣。對于內(nèi)部電極連接方式來說，連接不正確是很容易導(dǎo)致出現(xiàn)開裂現(xiàn)象的。
從內(nèi)電極設(shè)計、內(nèi)漿（內(nèi)電極漿料）的選擇、內(nèi)電極干燥工藝等方面對MLCC內(nèi)部開裂的原因進(jìn)行了深入研究，結(jié)果表明，通過測試瓷膜與內(nèi)漿的熱收縮曲線，選擇收縮率相接近的瓷膜與內(nèi)漿來制作MLCC；調(diào)試選用合適的內(nèi)電極干燥溫度、時間；改變內(nèi)電極設(shè)計，在產(chǎn)品中間層加一個厚度2～5倍于其它介質(zhì)厚度的不錯位夾層，MLCC內(nèi)部開裂幾率由原來的5.1%下降到目前的0.38%。
在MLCC制作過程中，由于工序多，影響因素多，特別是疊層層數(shù)高時，很容易出現(xiàn)外部或內(nèi)部開裂問題，而這些開裂嚴(yán)重地影響MLCC的可靠性。針對外部裂紋，國內(nèi)外MLCC廠家有多種測試分選方法，如采用人工外觀分選及外觀自動分選機(jī)分選；但是對于內(nèi)部開裂，從分析檢測的角度來說，國內(nèi)外MLCC廠家一般采用固化磨片結(jié)合高倍顯微鏡分析、SEM分析或采用無損探傷進(jìn)行觀察，由于磨片分析、SEM分析都是破壞性分析手段，而無損探傷分析每次只能進(jìn)行幾千粒以下的電容的分選，而且對于小于5μm的缺陷難以分析出，因此這些方法不能作為大批量生產(chǎn)MLCC內(nèi)部開裂的測試分選手段。
對于mlcc內(nèi)部電極連接方式介紹內(nèi)容是不容忽視的。畢竟對于其連接方式來說，是會對其性能和使用安全性有一定的影響。在電極的連接方式正確的基礎(chǔ)上，需要通過改變內(nèi)電極設(shè)計，在產(chǎn)品中間層加一個厚度2～5倍于其它介質(zhì)層厚度的不錯位夾層，達(dá)到消除或減弱由于瓷膜和內(nèi)漿收縮率匹配不佳而引起的內(nèi)應(yīng)力，從而可以較好地解決因此而引起的內(nèi)部開裂問題。
從業(yè)人員有必要深入了解mlcc內(nèi)部電極連接方式介紹，從而準(zhǔn)確的分析出所選擇的MLCC的內(nèi)部電極連接是否正確，避免連接方式不正確影響到其使用的安全性。
編輯：admin 最后修改時間：2023-05-26
