電容式觸控智能溫控器技術(shù)詳解 - 觸控按鍵防水與抗干擾介紹
電容式觸控智能溫控器技術(shù)詳解
觸控按鍵防水與抗干擾介紹
NuMicro ML56 觸控按鍵防水與抗干擾的能力
良好的防水能力，在 2 mm 深度的積水下觸控按鍵動作仍正常
通過 IEC 61000-4-6 10 V 動態(tài)注入電流測試
ML56 觸控按鍵的相關(guān)參數(shù)設(shè)定
先說明觸控靈敏度，Pulse Width (觸控按鍵感測脈沖寬度時間控制) 可以透過適當設(shè)定脈沖寬度來調(diào)整觸控按鍵的靈敏度，較短的脈沖寬度設(shè)定會帶來較差的靈敏度和較低的功耗，反之亦然。
觸控性能的穩(wěn)定性之 1
Times (觸控按鍵感測次數(shù)控制) 可以透過適當?shù)卦O(shè)置 “次數(shù)” 來調(diào)整觸控按鍵原始數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性，“次數(shù)” 設(shè)置越短，原始數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性越差，功耗也越低，反之亦然。
觸控性能的穩(wěn)定性之 2
IIR 濾波器可以控制當前原始數(shù)據(jù)與上一個原始數(shù)據(jù)的比率。用戶可以啟用 IIR 濾波器以抗干擾。啟用 IIR 濾波器時，它將增加觸控響應(yīng)時間。
觸控性能的穩(wěn)定性之 3
Debounce (觸控按鍵去抖動) 可以透過適當?shù)卦O(shè)置去抖動，觸控按鍵進入 (開) 和釋放 (關(guān)) 偵測的去抖動次數(shù)來調(diào)整觸控按鍵的穩(wěn)定性，較短的去抖動設(shè)置會帶來更快的觸控響應(yīng)時間，反之亦然。
觸控性能的穩(wěn)定性之 4
Trace Baseline (基線是透過 “校正” 所產(chǎn)生的) 觸控按鍵自動環(huán)境補償是一種算法，該算法可在啟動運作時自動追蹤基線做環(huán)境變化補償，使觸控按鍵性能更加穩(wěn)定。
綜合上述的參數(shù)說明，以下為大家介紹防水與抗干擾的參數(shù)設(shè)定。
首先是 #防水參數(shù)設(shè)定。觸控按鍵系統(tǒng)參數(shù)如表所示：
Pulse Width = 500 ns
Times = 128
接著是 抗干擾性參數(shù)設(shè)定，通過 IEC 61000-4-6 10 V 動態(tài)注入電流測試。
觸控按鍵系統(tǒng)參數(shù)如表所示：
Pulse Width = 2 us
Times = 128
IIR New = 6, Old = 2
Debounce Entry = 1, Release = 1
編輯：zzy 最后修改時間：2021-12-28
